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德律泰TRI
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TRI5001E
TRI5001E高測試涵蓋率之解決方案 MDA可升級至ICT與功能測試系統 人性化界面搭配快速又簡單的程式設計

最佳成本效益的測試策略

最新非多工式全新數位每個腳位1:1驅動/接收比的設計。

• 1:1 驅動 / 接收比的彈性可實現最佳化的植針配置。

• 處理ECN修改時,無須移動治具中的既有線路。

• 1:1 驅動 / 接收比提供最快速的測試程式發展及除錯。

業界最彈性的ICT+FCT解決方案。TR5001E可有效整合外部儀器做功能測試,如:PXI, Labview...等。


模擬測試

R L C 量測

• 六線式精密測量。

• 自動等電位隔離特性。

• AC相位量測。

TRI Enhanced TestJet 技術

可檢測各種SMT元件,如IC管腳、

接插件等的開路。

晶體管/ 二極管測試


數位測試

• 全數位在線測試儀

• 友好人機界面

• 在線燒錄軟件

• 邊界掃描技術

自動產生程式的測試功能

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無測點之解決方案

Drive Through 測試

當被動模擬元件與JTAG,邊界掃描元件或連接器串聯時,針對沒有測試點的特定線路,此測試方法可以大幅提高測試覆蓋率。

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邊界掃描測試

RAM, ROM, TTL及TREE 等元件的Virtual nails測試,以及IEEE1149.6的測試。

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TRI ToggleScan® 測試

強大的非向量測試技術,ToggleScan® 結合邊界掃描和TestJet技術來測試非邊界掃描元件,針對沒有測試點的特定線路,此測試方法可以大幅提高測試覆蓋率。

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Vreg Test®

不需要探針來測試PWM線路


TRI CPU Socket 測試

使用一個專門的非向量感應板與待測板上的邊界掃描元件連接,可以快速測試LGA CPU插座。


兩段式壓床

內置兩段式壓床方便做功能測試,節省治具成本。


現場監控系統支援

TR5001E 可以與許多現場監控系統進行整合來收集測試數據,幫助生產線集中化管理和提高生產品質。

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架构

最大可用通道(针点) 3200(模拟)/1600 (数位)

IBM相容电脑

操作系统 Microsoft Windows XP/ Windows 7

电力需求 90-130V/180-240V自动切换 50/60Hz.最大功率:1 kVA

工作气压 “4-8kg/cm,耗气量:4 Liter/cycle

测试治真 压床式

可测电路板尺寸

标准配备 (W) 420mm x (D) 300mm x (H) 100mm

选择配备 (W) 500mm x (D) 350mm x (H) 130mm

更大尺寸机板可依需求订做

模拟硬件

量测方式 六线式量测

可编程测试频率 100 Hz, 1 kHz, 10 kHz, 100 kHz, 1 MHz

可编程 DC 电压源 0-±10V分辨率:6.1 mV

可编程 DC 电流源 0-100 mA,分辨率:0.2 mA

可编程AC电压源 0-12 Vpp,分辨率:6.1 mV

可编程 DC 特高电压源 43 V最大值,43 mA 最大值

元件测试能力

电阻 0.1 ohm - 40M ohm

电容 10 pF -40 mF

电感 10 μH -60 H

模拟量测

AC 电压量测 0-100 V

DC 电压量测 0-±100 V分辨率:2.5 mV -50 mV

DC 电流量测 1 μA- 100 mA,分辨率:30 nA - 30 μA


选配硬件

模拟测试

TestJet 技术非向量式开路检测

任意波形产生器(AWG) 频率范围0-100 kHz,分辨率:0.15 Hz

数位测试

每脚位全新数位 1:1 非多工式驱动/接收比设计

驱动脚位可变级数 0.5 V - 3.8 V

接收脚位可变级数 0V-5 V

拉高/拉低电阻4.7 K

待测板电源5 V/3 A.3.3 V/3 A, 12 V/3 A. 18 V/3 A.-12 V/1 A,24 V/3 A

可编程式DUT电源(Max Voltaae/Max current)25 V/8 A, 75 V/2.5 A

支援快闪记忆体及EEPROM的在线烧录

MAC位址烧录支援server提供MAC位址烧录方式

边界扫描提供单颗、多颗、虚拟针点测试及IEEE 1149.6测试,满足更多元的测试需求


ToggleScan测试

结合边界扫描功能与非向量测试功能,可以检测出无测试点之零件脚位开路或短路的技术

BGA Tree测试能力

可产生BGA/VLSIIC管脚开短路的测试模式


尺寸/重量

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强大软件环境

微软Windows作业系统 人性化使用界面

自动程式产生器

自动隔离测试

自动学习短路开路测试功能,IC Clamping Diode测试功能和 TestJet测试功能

被动元件自动除错

内建自我诊断系统

的时旱二直二件或脚位位警


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